市面上鍍層測厚儀的種類有很多。不同的儀器測量精度和測量的材料也不盡相同。很多儀器都是使用一種單一的測量原理，而x射線鍍層測厚儀則與眾不同，它是綜合了各種測試原理。

一、x射線鍍層測厚儀和測試原理：

其測量方法主要有X射線熒光法、電解法、電容法、楔切法、厚度差測量法、光截法、β射線反向散射法、磁性測量法及渦流測量法等。這里我們重點介紹一下X射線熒光法。X射線熒光法具體是指通過射線激發(fā)各種物質的X射線特征，使其中的激元素產生X射線（即熒光）。使用X射線熒光測量儀測量并記錄樣品中X射線的照射量率，從而確定樣品的成分和目標元素的測量方法。

簡單來說就是測量x射線強度與標準片得出各種物質的厚度，這種厚度的對應關系在后臺軟件形成曲線。各種物質的強度值增加厚度值也增加（但不是絕對關系），通過標樣、軟件以及算法得到接近實際值對應關系的曲線。

二、x射線鍍層測厚儀的特點:

這種操作方法可進行原位測量方法特點是簡單、快速，可以現(xiàn)場獲得目標元素的含量劃分礦與非礦的界限。可以全部代替或者部分代替刻槽取樣。不僅可以測量金屬表面的涂層厚度也可以測量非金屬表面的涂層厚度。海底X射線熒光測量和放射性同位素X射線熒光測井也得到了較大的發(fā)展。

三、《X射線熒光鍍層測厚儀校準規(guī)范》：

《X射線熒光鍍層測厚儀校準規(guī)范》中對以下3項內容做了要求。

1、厚度測量重復性。實驗標準偏差必須除以儀器10次測量算數(shù)平均值的百分數(shù)作為儀器厚度測量重復性。

2、示值漂移。選用一塊標準片，每15分鐘測量一次、每組測量10次，共測量5組。測量結果中最大最小差值除以厚度標準片的實際厚度值的百分數(shù)即為儀器示值的穩(wěn)定性。

3、厚度測量示值誤差。選取1-5個標準塊分別對每個標準塊測量3次計算平均值，各個點位的算數(shù)平均值與標準塊的實際差值即為該點的示值誤差。

四、X射線涂鍍層測厚儀的品牌廠家以及價格：

X射線涂鍍層測厚儀的國外品牌廠家有：

1、英國牛津

英國品牌廠家牛津，代表性產品CMI900 X熒光鍍層測厚儀。價格大概在24萬左右。

2、日本日立

日本品牌廠家日立，代表性產品FT50微束XRF涂鍍層材料分析儀。價格大概在6666元。

3、德國品牌菲希爾

德國品牌廠家菲希爾，代表性產品 FISCHERSCOPE? X-RAY XDAL X射線光譜儀。價格大概為30萬。

4、韓國微先鋒鍍層測厚儀

韓國品牌廠家Micro Pioneer,代表性產品有XRF-2000L.價格大概為1000元

X射線鍍層測厚儀是涂層測厚儀的一種，由于其設計原理比較復雜、功能強大所以X射線鍍層測厚儀比普通的儀器價格也高出很多。以上便是儀器的相關信息，希望能對您提供幫助。